Fornire i fondamenti teorici e la pratica sperimentale delle tecniche microscopiche con particolare riferimento alla microscopia ottica, elettronica e a sonda.
Per il solo Curriculum di Fisica della Materia, l'insegnamento potrà essere inserito nel PdS in sostituzione a "Elementi di Relatività Generale, Astrofisica e Cosmologia" oppure a "Elementi di Fisica Terrestre e dell'Ambiente"
Per il solo Curriculum di Fisica della Materia, l'insegnamento potrà essere inserito nel PdS in sostituzione a "Elementi di Relatività Generale, Astrofisica e Cosmologia" oppure a "Elementi di Fisica Terrestre e dell'Ambiente"
scheda docente materiale didattico
Fondamenti di microscopia ottica, microscopia in riflessione, metallografia,microscopia in trasmissione, l�uso della luce polarizzata.
Principi di funzionamento della microscopia elettronica, SEM, TEM, EDX. Utilizzo del SEM: rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi, cattura e analisi morfometriche delle immagini.
Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda, la microscopia a forza atomica in contatto, la microscopia a forza atomica in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.
Introduzione all analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l'utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.
Programma
Cenni storici di microscopia, concetto di risoluzione ed il limite di Rayleigh,panoramica sulle tecniche di microscopia ed utilizzo nei diversi ambiti di ricerca.Fondamenti di microscopia ottica, microscopia in riflessione, metallografia,microscopia in trasmissione, l�uso della luce polarizzata.
Principi di funzionamento della microscopia elettronica, SEM, TEM, EDX. Utilizzo del SEM: rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi, cattura e analisi morfometriche delle immagini.
Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda, la microscopia a forza atomica in contatto, la microscopia a forza atomica in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.
Introduzione all analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l'utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.
Testi Adottati
dispense fornite a lezione realizzate dal docente sulla base delle slide presentate durante il corsoModalità Erogazione
lezioni frontali in aula con ausilio di video proiezione e esercitazioni in laboratorio. Le lezioni in laboratorio prevedono la pratica diretta dello studente su microscopi didattici.Modalità Valutazione
esame finale in forma orale scheda docente materiale didattico
Programma
Fornire i fondamenti teorici e la pratica sperimentale delle tecniche microscopiche con particolare riferimento alla microscopia ottica, elettronica e a sonda.Testi Adottati
dispense fornite a lezioneModalità Erogazione
Il corso prevede 32 ore di lezione frontale e 24 ore di laboratorio (Dott. Luca Persichetti). lezioni frontali in aula con ausilio di video proiezione e esercitazioni in laboratorio. Le lezioni in laboratorio prevedono la pratica diretta dello studente su microscopi didattici.Modalità Valutazione
esame finale in forma orale