Fornire i fondamenti teorici e la pratica sperimentale delle tecniche microscopiche con particolare riferimento alla microscopia ottica, elettronica e a sonda.
scheda docente materiale didattico
Richiami di ottica. Fondamenti di microscopia ottica. Risoluzione, contrasto ed ingrandimento. Le componenti di un microscopio ottico. La formazione dell’immagine Microscopia in riflessione. Contrasto di fase. Campo chiaro e campo scuro. Polarizzazione.
Principi di funzionamento della microscopia a scansione di elettroni (SEM). Componenti di un SEM. Interazione sonda campione. Rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi. Utilizzo del SEM.
Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda (SPM). La microscopia a effetto tunnel (STM). La microscopia a forza atomica (AFM). AFM in contatto. AFM in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.
Introduzione all’ analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l’utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.
Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging. D. B. Murphy , M. W. Davidson. J. Wiley & Sons
Scanning Microscopy for Nanotechnology, W. Zhou and Z. L. Wang. Springer
Programma
Occhio e percezione. Cenni storici di microscopia.Richiami di ottica. Fondamenti di microscopia ottica. Risoluzione, contrasto ed ingrandimento. Le componenti di un microscopio ottico. La formazione dell’immagine Microscopia in riflessione. Contrasto di fase. Campo chiaro e campo scuro. Polarizzazione.
Principi di funzionamento della microscopia a scansione di elettroni (SEM). Componenti di un SEM. Interazione sonda campione. Rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi. Utilizzo del SEM.
Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda (SPM). La microscopia a effetto tunnel (STM). La microscopia a forza atomica (AFM). AFM in contatto. AFM in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.
Introduzione all’ analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l’utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.
Testi Adottati
Dispense realizzate dal docente sulla base delle slide presentate durante il corso.Fundamentals of Light Microscopy and Electronic Imaging. D. B. Murphy , M. W. Davidson. J. Wiley & Sons
Scanning Microscopy for Nanotechnology, W. Zhou and Z. L. Wang. Springer
Modalità Erogazione
lezioni frontali in aula con ausilio di video proiezione e esercitazioni in laboratorio. Le lezioni in laboratorio prevedono la pratica diretta dello studente su microscopi didattici.Modalità Valutazione
esame finale in forma orale scheda docente materiale didattico
Fondamenti di microscopia ottica, microscopia in riflessione, metallografia,microscopia in trasmissione, l�uso della luce polarizzata.
Principi di funzionamento della microscopia elettronica, SEM, TEM, EDX. Utilizzo del SEM: rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi, cattura e analisi morfometriche delle immagini.
Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda, la microscopia a forza atomica in contatto, la microscopia a forza atomica in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.
Introduzione all analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l'utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.
Programma
Cenni storici di microscopia, concetto di risoluzione ed il limite di Rayleigh,panoramica sulle tecniche di microscopia ed utilizzo nei diversi ambiti di ricerca.Fondamenti di microscopia ottica, microscopia in riflessione, metallografia,microscopia in trasmissione, l�uso della luce polarizzata.
Principi di funzionamento della microscopia elettronica, SEM, TEM, EDX. Utilizzo del SEM: rilevazione di elettroni secondari e retrodiffusi, cattura e analisi morfometriche delle immagini.
Principi di funzionamento e componenti di un microscopio a scansione di sonda, la microscopia a forza atomica in contatto, la microscopia a forza atomica in non-contatto. Tecniche a scansione secondarie. Risoluzione ed artefatti.
Introduzione all analisi di immagine 2D e 3D, miglioramento della qualità delle immagini con e senza l'utilizzo di kernel, segmentazione, binarizzazione e analisi quantitativa di immagine con software open-access.
Testi Adottati
dispense fornite a lezione realizzate dal docente sulla base delle slide presentate durante il corsoModalità Erogazione
lezioni frontali in aula con ausilio di video proiezione e esercitazioni in laboratorio. Le lezioni in laboratorio prevedono la pratica diretta dello studente su microscopi didattici.Modalità Valutazione
esame finale in forma orale